核心技術(shù)，精準(zhǔn)測量
菲希爾 XDL210 X射線測厚儀運(yùn)用先進(jìn)的 X 射線熒光光譜法，實(shí)現(xiàn)對鍍層厚度的精準(zhǔn)測量。這種無損檢測方式，不僅能確保樣品的完整性，更通過自動(dòng)聚焦功能，將測量準(zhǔn)確性提升到新的高度。無論是汽車發(fā)動(dòng)機(jī)零部件、航空航天金屬結(jié)構(gòu)件，還是電子設(shè)備外殼等，在大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件鍍層檢測中，XDL210 都能精準(zhǔn)給出厚度數(shù)據(jù)，為質(zhì)量控制提供堅(jiān)實(shí)保障。其元素測量范圍涵蓋 Cl（17）-U（92），最多可同時(shí)測量 24 種元素、23 層鍍層，復(fù)雜鍍層結(jié)構(gòu)也能輕松應(yīng)對。
強(qiáng)大硬件，適配多樣需求
硬件性能是菲希爾 XDL210 X射線測厚儀的又一亮點(diǎn)。其動(dòng) X/Y 平臺移動(dòng)范圍≥95x150mm，可用工作臺面≥420x450mm，足以滿足多樣品放置與測量需求，無論是小型零部件還是較大尺寸的樣品，都能在工作臺上穩(wěn)定就位。電動(dòng) Z 軸支持手動(dòng) / 自動(dòng)聚焦，移動(dòng)范圍≥140mm，可適配不同高度樣品，測量過程更加靈活便捷。測量距離補(bǔ)償法（DCM）技術(shù)的運(yùn)用，使其可實(shí)現(xiàn) 80mm 深度的腔體樣品遠(yuǎn)距離對焦測量，對于已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)部件的測試，表現(xiàn)出色?？勺兏邏褐С?30KV、40KV、50KV 三檔調(diào)節(jié)，配合 φ0.3 的圓形準(zhǔn)直器（還有多種規(guī)格可選），以及穩(wěn)定的比例接收器 X 射線探測器，無論何種測試場景，XDL210 都能精準(zhǔn)捕捉信號，保證測量精度。高分辨率 CCD 攝像頭，放大倍數(shù) 40 - 160 倍，沿初級 X 射線光束方向觀察測量位置，手動(dòng)聚焦、十字線（帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點(diǎn)尺寸）、可調(diào)節(jié)亮度的 LED 照明，以及激光光點(diǎn)定位，讓樣品觀察與定位變得輕而易舉。
